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產品名稱:磁粉探傷靈敏度試片

產品型號:A1

產品報價:

產品特點:磁粉探傷靈敏度試片Z先由日本無損檢測學會提出,以後為多個國家使用,主要用於零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀複雜,不同材質的工作,可以正確地選擇磁化規範,並可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,並對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。

A1磁粉探傷靈敏度試片的詳細資料:

A1型 磁粉探傷標準靈敏度試片
簡 介:

A型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學會提出,以後為多個國家使用,主要用於零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀複雜,不同材質的工作,可以正確地選擇磁化規範,並可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,並對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。

特 點:
試片用於磁粉顯示,圖象直觀,使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,尤其檢查形狀複雜的零件時,表現其獨特的優點。

性能規格:
A型標準試片分為A1、A2;A1為退火材料製成,A2為不作熱處理的冷軋材料製成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片,與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 (15/50μ)標準試片。相當於A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片,規格為(8-9)D;適用於中靈敏度探傷,其中括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為(微米),D為工件直徑。
本套試片包括:

1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規格的試片組成

使用方法:
1、標準試片適宜於連續磁化法,使用時應選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一麵朝向工件,用膠帶紙緊密地貼上,保證試片與被檢麵接觸良好,膠帶紙貼於試片兩邊緣,不能覆蓋試片背麵的刻槽部位。
2、進行外加懸場法,對工件進行磁化,並在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規範由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,即是磁化電流)。上述步驟完畢後,貼在工件表麵上的試片,即可清楚顯示磁痕。

注意事項:
1、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表麵的油漬擦去,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢麵接觸良好。
2、試片用後請塗防鏽油。
3、試片有鏽蝕、褶折或磁特性發生改變時不得繼續使用。

磁粉探傷靈敏度試片 磁粉探傷靈敏度試片

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